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商品説明
二次イオン質量分析法の基礎と応用に関する専門書。- タイトル: 表面分析:SIMS- 著者: D. ブリッグス, M.P. シーア- 定価: 8500円- 出版社: アグネス承風社ご覧いただきありがとうございます。透明のブックカバーを付けて使用しておりました。そのまま付けて発送予定です。20年以上前に発行された本かつ、古本にご理解のほどお願いします。中身は美品だと思います。。駿台 テキスト東京科学大学 理工学系。英語基礎講座 Advanced CD1 & CD4。非売品 小6 算数 バックアップテキスト 問題集と 解答解説集。Yuusuke Hirokawa様 ①。ニチイ ドクターズクラーク テキスト。生理学テキスト 第9版 大地康男著お店の情報
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